2020年1月15日発表
横河計測株式会社(本社:東京都武蔵野市 社長:山崎 正晴)は、波長範囲1.9μm~5.5μm(マイクロメートル)のレーザの光スペクトルを、広い測定ダイナミックレンジと高い波長分解能で高精度に測定する光スペクトラムアナライザ「AQ6377」を開発、1月16日から発売しますのでお知らせします。「AQ6377」は、5μm帯に対応した業界初の分散分光方式のベンチトップ型光スペクトラムアナライザです。光スペクトラムアナライザは、半導体レーザやファイバレーザなど光デバイスの光波長成分を分解し、波長特性を評価するために使用される測定器です。「AQ6377」は、環境計測分野などで注目されている5μm帯の光デバイスの普及や性能向上に貢献します。
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