中央大学（東京都八王子市、学長：河合 久）理工学部 電気電子情報通信工学科の李 恒 助教、敷地 大樹 大学院生（理工学研究科 電気電子情報通信工学専攻・博士前期課程2年）、久保田 実樹 大学院生（同 博士前期課程1年）、河野 行雄 教授、太田 頼斗 学部4年生（※ 研究当時）らを中心とする研究チームは、佐藤 いまり 教授、池畑 諭 准教授、須山 孟 大学院生（博士課程）らから成る国立情報学研究所（NII、東京都千代田区、所長：黒橋 禎夫）の研究グループと共同で、ミリ波・テラヘルツ・赤外線（MMW・THz・IR）帯域でのコンピュータビジョン（CV）画像計測に立脚する新たな非破壊検査手法の確立に成功しました。
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