（レーザー関連）量子科学技術研究開発機構他／高強度レーザー照射による物質表面の超高速構造変化をナノスケールで観測 ～新たなその場観測技術によるレーザーナノ加工制御技術の進展に期待～

概要
欧州X線自由電子レーザー研究所(European XFEL)[1]の中堤基彰研究員、独国Siegen大学のChristian Gutt教授らの国際共同研究グループは、X線自由電子レーザー（XFEL）[2]　施設「SACLA[3]」を用いて、フェムト秒レーザーの照射に伴う固体表面のアブレーション[4]のダイナミクスを、ナノメートル[5]の深さ分解能とピコ秒[6]の時間分解能で計測することに初めて成功しました。

微小角斜入射小角X線散乱（GISAXS）と呼ばれる手法を初めてXFELに応用したこの結果はレーザー微細加工や高エネルギー密度科学に新たな展望を拓く測定手法と期待されます。