(レーザー関連)東京エレクトロン デバイス株式会社他/東京エレクトロンデバイスとアイテス、 SiCデバイスの潜在欠陥をウェーハレベルで可視化する検査ソリューションで協業

UVレーザー技術を用いた新製品「SiC潜在欠陥検査装置/通電劣化シミュレーター ITS-SCX100」の開発・販売により材料評価リードタイムを短縮し、
高信頼なSiCデバイス開発を支援

東京エレクトロン デバイス株式会社(本社:東京都渋谷区、代表取締役社長:宮本 隆義、以下「TED」)と、電子部品の分析解析・信頼性評価サービス等を手掛ける株式会社アイテス(本社:滋賀県大津市、代表取締役社長:五十嵐 靖行、以下「アイテス」)は、SiC(シリコンカーバイド)デバイス向けの潜在欠陥検査ソリューション分野で協業することをお知らせします。

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