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1ショットで空間・エネルギー情報を同時取得 東京大学 理化学研究所 科学技術振興機構（JST） 発表のポイント X線自由電子レーザー（XFEL）のパルス1ショットを用いて、試料の各位置を透過した軟X線のスペクトルを同時に

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