（レーザー関連）高エネルギー加速器研究機構（KEK）他／半導体デバイスの動作中に内部構造の可視化に成功

～半導体を評価する新しい手法の提案～
本研究成果のストーリー●Question
半導体デバイスの中心的な役割を担うp型とn型半導体を接合したpn接合界面が発見されて以来約70年間、pn接合界面が直接観察されることはなかった。

●Findings
福本氏が開発した半導体中の伝導電子が可視化できる装置を発展させることで、pn接合界面に形成される電子が空乏化した領域の実空間およびエネルギー空間観測に成功した。

●Meaning
この手法は、画像を用いた半導体デバイスの評価を可能にし、あらゆる半導体デバイスに適用できることから、半導体産業の発展に貢献することが期待される。