(レーザー関連)筑波大学/高速デバイス材料の瞬間的な状態を可視化する走査電子顕微鏡技術を開発

 走査電子顕微鏡とフェムト秒レーザーを組み合わせ、物質の瞬間的な状態を観察できる超高速時間分解走査電子顕微鏡計測装置を開発しました。これを用いて、半導体GaAs(ガリウムヒ素)基板のデバイス上での金属電極の周囲の電位変化

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