分析機器 | Optinews

（レーザー関連）株式会社堀場製作所／レーザー回折・動的画像式粒子径・形状解析装置「Partica」を発売

～先端マテリアルの研究開発や品質管理の効率化に貢献～株式会社堀場製作所（以下、当社）は、レーザー回折および動的画像式の粒子径・形状解析装置「Partica(パーティカ)」を2025年1月6日に発売します。研究施設や工場

二次元や高さの寸法を高速・高精度に測定株式会社ニコンの子会社、株式会社ニコンソリューションズは、半導体デバイスをはじめとした、電子部品などの寸法を自動で測定できる画像測定システム「NEXIV VMF-K」シリーズを発売

液体中の摩耗粉の大きさや量を高精度に測定無人による安定した状態監視で産業インフラの長寿命化に貢献株式会社東陽テクニカ(本社：東京都中央区、代表取締役社長: 高野俊也(こうのとしや) 、以下東陽テクニカ)は、自

―超高速現象を、小型・高感度で観察する新装置へ－概要電子や光子といった個々の量子の振るまいや、複数の量子間の相関（量子もつれ※1）を制御することで、従来の計測技術の限界を超える量子センシングの研究が精力的

日本語で読みたい方は、 google chromeで開き、画面上で右クリックをして、「日本語に翻訳」をクリックしてください Dr. Peter Rentzepis has invented a low-cost cel

リサイクル機器分野に参入しサーキュラーエコノミーの構築に貢献キヤノンは、リサイクル現場でプラスチックの種類を判別する際、判別が難しい黒色と、その他の色のプラスチック片を高精度に同時選別することができる、トラッキング型ラ

～独自の赤外ガス分析技術「IRLAM」を搭載し、最先端の半導体製造プロセスを支える～ HORIBAグループで半導体事業を担う株式会社堀場エステック（以下、堀場エステック）は、レーザーガス分析計「LG-100」を5月21日

～一酸化炭素の遠隔検知による保安の高度化～ JFEスチール株式会社東京ガスエンジニアリングソリューションズ株式会社株式会社ガスター JFEスチール株式会社（社長：広瀬政之、以下「JFE」）と東京ガスエンジニアリング

－新規の薬剤候補物質や有機半導体材料の分子構造解明に貢献－概要理化学研究所（理研）放射光科学研究センター生体機構研究グループの高場圭章基礎科学特別研究員（研究当時）、SACLAビームライン基盤グループイメージング開発

発表のポイントナノメートルスケールの空間に閉じ込められた特殊な赤外光によって単一のタンパク質を観察化学分析に有用な赤外振動スペクトルを単一のタンパク質で計測に成功ナノ空間における赤外光とタンパク質の相互作用を理論的