(レーザー関連)浜松ホトニクス株式会社/先端半導体デバイスの故障箇所を非破壊でマイクロメートル単位の位置精度で特定

 半導体故障解析装置PHEMOS-Xシリーズは、半導体デバイスの故障に起因する発光・発熱などをとらえて故障箇所を特定する高解像度エミッション顕微鏡です。  このたび、当社は保有するレーザ・光センサ・計

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(レーザー関連)情報通信研究機構(NICT)/世界初、光ファイバ通信向けの実用的な面発光レーザの開発に成功

~光ファイバ通信システムに用いる光源の小型化、 低消費電力化、低コスト化に期待~ 2025年4月10日 国立研究開発法人情報通信研究機構 ポイント 光ファイバ通信に使用できる実用的な面発光レーザの開発に世界で初めて成功

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