わずかな不純物質の濃度測定を可能とし、最先端の材料開発などへの応用に期待
富士フイルム株式会社（社長：助野 健児）は、試料に含まれる微量の元素濃度を高精度に分析するために必要な標準物質を開発しました。本物質は、高精度な微量元素分析を可能とする次世代微量元素分析法「フェムト秒レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法」（以下「fs-LA-ICP-MS法」）に最適な標準物質です。本物質を用いた「fs-LA-ICP-MS法」により、わずかな不純物質などの濃度測定が可能となり、最先端の材料開発などへの応用が期待されます。
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